探究rohs檢測儀的幾大誤差來源

　　rohs檢測儀采用先進(jìn)的硅探測器，實(shí)現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動(dòng)切換的濾光片及透射式X射線球管，大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達(dá)到同樣的激發(fā)效率，同時(shí)減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的準(zhǔn)確性，重復(fù)性。

　　rohs檢測儀在測定微量成分時(shí)，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會(huì)產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對(duì)高靈敏度分析的影響，此檢測儀配置了多種可自動(dòng)切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。

　　rohs檢測儀出現(xiàn)誤差很常見，但這些誤差的來源成因有哪些呢？我們可從以其自身因素來分析下：

　　1.壓片板（或壓片頭）不光潔，導(dǎo)致分析面不光滑，從而影響測量結(jié)果。

　　2.光路真空度不合適，分光晶體、濾光片選擇不佳，使各種射線產(chǎn)生干擾，影響分析。

　　3.X射線管電壓、電流不穩(wěn)定，從而產(chǎn)生結(jié)果波動(dòng)。

　　4.隨著時(shí)間的延長，X光管內(nèi)部元件尺寸位置變化引起初級(jí)X射線強(qiáng)度的變化，或X射線管陽極出現(xiàn)斑痕，靶元素在窗口沉積，給分析結(jié)果帶來誤差。

　　5.溫度的變化，引起分光晶體晶面間距變化，從而影響分光效率。正比計(jì)數(shù)管高壓漂移，溫度變化引起管內(nèi)氣體成分變化，影響放大倍數(shù)。

　　6.電子電路的漂移，計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差，檢測過程的時(shí)間損失引入的計(jì)數(shù)誤差等。

　　7.氣體的壓力、氮?dú)狻⒓淄闅怏w的流量、溫度等輻射通道條件的變化，都會(huì)影響光路中氣體對(duì)X射線的吸收。因此，氣瓶的減壓閥一旦調(diào)好，不要隨意再動(dòng)，特別是更換新氣時(shí)，一定要嘗試著多次調(diào)氣壓，否則由于氣流、氣壓不穩(wěn)，使結(jié)果產(chǎn)生誤差。