產(chǎn)品介紹

X射線熒光光譜儀

針對DX320L在各個領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護等級的需求，特別設(shè)計該款DX320L。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率； 集合了多年ROHS檢測經(jīng)驗，應(yīng)用新一代，分辨率zui高的電制冷SDD半導體探測器,對六種有害元素尤其是Br等元素進行了優(yōu)化,提高儀器測試的穩(wěn)定性和精度性。

X射線熒光光譜儀

性能特點

工作曲線：提供開放性工作曲線功能，根據(jù)企業(yè)物料情況量身定做的有害元素檢測和控制方案；

準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用實現(xiàn)了全自動一鍵測試。

移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點

高分辨率探測器：采用，分辨率zui高的電制冷SDD半導體探測器，更有利于儀          器的穩(wěn)定性和精度性

新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達150W的功率實現(xiàn)更高的測試效率安全性能：全光路射線防護系統(tǒng)配合經(jīng)典的三重安全防護設(shè)計,同時采用軟、硬件雙重安全連鎖,確保輻射安全性能；

主要技術(shù)參數(shù)：
型號：DX-320L
測試對像：粉未、固體、液體
元素分析范圍：鈉（Na）—鈾（U）
含量分析范圍：1PPM—99.99%
測量時間：30—200秒
探測器：電制冷SDD半導體探測器
儀器分辨率：127eV±5

zui低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm

Sb/Se/Ba/Pb/As/Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm（八大重金屬）
多道分析器：2048道
輸入電壓：AC 220V±10%，50HZ（建議配穩(wěn)壓電源）
額定功率：300W（帶電腦）
環(huán)境濕度：30%--80%
外型尺寸：660mm×480mm×330mm
測量倉：440mm×350mm×150mm
儀器重量：62公斤

標準配置:
高低壓電源（美國Spellman進口）
大功率X光管（英國Oxford牛津進口）
電制冷半導體探測器（美國AMPTEK進口）
多道分析器（美國進口）
控制電路
高壓單元
移動樣品臺
高清晰CCD
準直器：含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一個
濾光片：5組濾光片
計算機：品牌商務(wù)電腦（內(nèi)存2G、硬盤200G），17寸液晶顯示器
打印機：彩色噴墨打印機

應(yīng)用范圍：

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

掃一掃關(guān)注【德譜儀器】